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顯微型二維雙折射相位差測(cè)量?jī)x
更新日期：2026-04-10
訪問(wèn)量：121
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址：日本
一、產(chǎn)品概述
二、核心性能特點(diǎn)
高分辨率全場(chǎng)測(cè)量：搭載約 500 萬(wàn)像素傳感器，可在顯微視野下實(shí)現(xiàn)樣品全域同步檢測(cè)，無(wú)需逐點(diǎn)掃描，兼顧檢測(cè)精度與效率。
精準(zhǔn)測(cè)量能力：針對(duì) 0~130nm 低相位差樣品優(yōu)化，測(cè)量分辨率可達(dá) 0.001nm，相位差 > 10nm 時(shí)軸方位精度 < 0.1°，可精準(zhǔn)捕捉微小應(yīng)力分布。
靈活適配性：可搭載奧林巴斯、尼康等主流品牌商用顯微鏡，兼容現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，也可選擇僅測(cè)量相機(jī)頭的 PA-micro-S 款，適配不同使用需求。
專(zhuān)業(yè)分析功能：配套 PA-View 專(zhuān)用分析軟件，支持實(shí)時(shí)相位差 / 應(yīng)力分布云圖可視化、相位軸方位計(jì)算、檢測(cè)報(bào)告自動(dòng)生成，滿足多維度數(shù)據(jù)分析需求。
非接觸式檢測(cè)：采用光學(xué)測(cè)量原理，對(duì)樣品無(wú)損傷，可直接檢測(cè)成品、半成品，不影響樣品后續(xù)使用。
三、技術(shù)參數(shù)表
| 參數(shù)項(xiàng) | 指標(biāo)詳情 |
|---|---|
| 測(cè)量波長(zhǎng) | 520nm（單波長(zhǎng)測(cè)量） |
| 相位差測(cè)量范圍 | 0 ~ 130nm |
| 測(cè)量分辨率 | 0.001nm |
| 測(cè)量重復(fù)精度 | <1nm（西格瑪） |
| 軸方位精度 | <0.1°（相位差> 10nm 時(shí)） |
| 傳感器像素 | 2056×2464（約 500 萬(wàn)像素） |
| 基礎(chǔ)視野尺寸 | 142×170μm（可通過(guò)物鏡倍率調(diào)整） |
| 輸出項(xiàng)目 | 相位差 (nm)、相位軸方位 (°)，可選配應(yīng)力值換算 (MPa) |
| 適配顯微鏡 | 奧林巴斯、尼康等主流商用顯微鏡 |
四、日本 Photonic Lattice 顯微型二維雙折射相位差測(cè)量?jī)xPA-micro 適用場(chǎng)景
光學(xué)玻璃 / 鏡片：檢測(cè)玻璃內(nèi)部應(yīng)力、透鏡成型殘留應(yīng)力、光學(xué)均勻性
透明樹(shù)脂 / 塑料：注塑成型件內(nèi)部應(yīng)力分布、脫模影響評(píng)估
光學(xué)薄膜：薄膜相位差不均勻性、應(yīng)力分布檢測(cè)
晶體 / 晶片：晶體雙折射、內(nèi)部缺陷、應(yīng)力狀態(tài)分析
微小透明樣品：光纖、微結(jié)構(gòu)器件、生物透明樣本等顯微級(jí)檢測(cè)
鋼化玻璃：強(qiáng)化玻璃應(yīng)力分布、加工后狀態(tài)評(píng)估
五、型號(hào)說(shuō)明
PA-micro：完整套裝，含品牌商用顯微鏡 + 測(cè)量相機(jī)頭，開(kāi)箱即可使用，適合實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢部門(mén)直接采購(gòu)。
PA-micro-S：僅測(cè)量相機(jī)頭，不含顯微鏡，需用戶自行搭配兼容顯微鏡，適合已有顯微鏡的用戶，降低采購(gòu)成本。
六、包裝與使用說(shuō)明
標(biāo)準(zhǔn)包裝：測(cè)量相機(jī)頭、顯微鏡（PA-micro 款）、臺(tái)式電腦、PA-View 軟件授權(quán)、操作說(shuō)明書(shū)、配套線纜。
使用環(huán)境：建議在穩(wěn)定溫濕度、無(wú)振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)光干擾的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下使用，以保障測(cè)量精度。
操作流程：樣品放置→視野對(duì)焦→一鍵測(cè)量→軟件分析→報(bào)告導(dǎo)出，操作流程簡(jiǎn)潔，降低使用門(mén)檻。
