產(chǎn)品展示PRODUCTS
ai-Phase 薄膜塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)定裝置
更新日期：2026-04-29
訪問(wèn)量：40
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：日本
一、產(chǎn)品概述
二、核心功能與技術(shù)參數(shù)
| 項(xiàng)目 | 規(guī)格說(shuō)明 |
|---|---|
| 產(chǎn)品型號(hào) | Mobile M3 type3 |
| 核心測(cè)試項(xiàng)目 | 塞貝克系數(shù)、電阻率 |
| 溫度范圍 | 室溫～180℃（支持定制擴(kuò)展溫區(qū)） |
| 塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍 | ±1000 μV/K，分辨率可達(dá) 0.1 μV/K |
| 電阻率測(cè)量范圍 | 10?? ~ 102 Ω?cm，適配低阻 / 高阻薄膜 |
| 樣品適配 | 晶圓、玻璃基板、柔性薄膜等多種基底，支持毫米級(jí)小樣品 |
| 結(jié)構(gòu)形式 | 分體式便攜結(jié)構(gòu)，探頭與主機(jī)盒分離 |
| 控制方式 | 主機(jī)盒 + PC 軟件控制，自動(dòng)采集數(shù)據(jù)并計(jì)算功率因子 |
三、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)與特點(diǎn)
薄膜專用測(cè)量?jī)?yōu)化
專為薄至數(shù)百納米的薄膜樣品設(shè)計(jì)，解決了傳統(tǒng)塊體設(shè)備測(cè)量薄膜時(shí)的誤差問(wèn)題，可精準(zhǔn)表征半導(dǎo)體、氧化物、有機(jī)熱電薄膜的熱電性能，適配熱電優(yōu)值（ZT）評(píng)估需求。
便攜易集成設(shè)計(jì)
采用緊湊型分體式結(jié)構(gòu)，無(wú)需大型實(shí)驗(yàn)設(shè)備，可直接在實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)線現(xiàn)場(chǎng)使用，也可集成到手套箱、真空設(shè)備中，滿足特殊環(huán)境下的測(cè)試需求。
高精度與高靈敏度
搭載高精度溫度差控制與電壓采集電路，可實(shí)現(xiàn)低塞貝克系數(shù)薄膜的精準(zhǔn)測(cè)量，同時(shí)支持寬范圍電阻率測(cè)試，適配不同導(dǎo)電特性的薄膜樣品。
高效便捷的操作流程
軟件界面直觀易上手，一鍵完成樣品測(cè)試與數(shù)據(jù)導(dǎo)出，單樣品測(cè)試周期短，支持批量樣品快速檢測(cè)，大幅提升研發(fā)與質(zhì)檢效率。
多功能集成測(cè)試
一臺(tái)設(shè)備同時(shí)完成塞貝克系數(shù)與電阻率兩項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)的測(cè)定，無(wú)需多臺(tái)設(shè)備分別測(cè)試，節(jié)省成本與實(shí)驗(yàn)時(shí)間，為熱電材料的性能篩選與優(yōu)化提供完整數(shù)據(jù)支撐。
四、 ai-Phase 薄膜塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)定裝置Mobile M3 type3 典型應(yīng)用場(chǎng)景
熱電薄膜材料研發(fā)：Bi?Te?基、有機(jī)熱電、氧化物熱電薄膜的性能表征
半導(dǎo)體器件性能評(píng)估：半導(dǎo)體薄膜的導(dǎo)電類型與熱電特性分析
柔性電子材料測(cè)試：柔性熱電薄膜、可穿戴器件材料的性能檢測(cè)
新能源材料開發(fā)：熱電轉(zhuǎn)換器件、薄膜傳感器材料的性能篩選與優(yōu)化
高校與科研院所：材料科學(xué)、凝聚態(tài)物理相關(guān)的教學(xué)與研究實(shí)驗(yàn)
